Görüntüleme ve Karakterizasyon Birimi

İnsan gözünün çok ince ayrıntıları görebilme olanağı sınırlıdır. Bu nedenle görüntü iletimini sağlayan ışık yollarının merceklerle değiştirilerek, daha küçük ayrıntıların görülebilmesine olanak sağlayan optik cihazlar geliştirilmiştir. Ancak bu cihazlar, gerek büyütme miktarlarının sınırlı oluşu gerekse elde edilen görüntü üzerinde işlem yapma imkânının olmayışı nedeniyle araştırmacıları bu temel üzerinde yeni sistemler geliştirmeye itmiştir. Elektronik ve optik sistemlerin birlikte kullanımı ile yüksek büyütmelerde üzerinde işlem ve analizler yapılabilen görüntülerin elde edildiği cihazlar geliştirilmiştir. 

Laboratuvarımız bünyesinde bulunan Taramalı Elektron Mikroskobu (Scanning Electron Microscope-SEM) ve Atomik Kuvvet Mikroskobu bu amaca hizmet eden cihazlardandır.

Elektro-optik prensipler çerçevesinde tasarlanmış taramalı elektron mikroskobu (SEM), yüksek enerjili elektronların malzeme ile etkileşerek  örnek yüzeyinden görüntü alınmasını sağlayan sistemlerdir. İncelenen malzemelerin mikro ve nano boyutta görüntülenmesine ve Enerji Dağılımlı X-ışınları spektrometresi (EDS) ile malzemenin elementel kompozisyonlarının belirlenmesine olanak sağlamaktadır. Cihaz mevcut doğaltaş maden cevheri metalik polimerik kompozit malzemeler ve biyolojik dokuların yakın yüzey özelliklerinin saptanabilmesine olanak sağlamaktadır.

Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç ile tarama yaparak elde etmektedir. Her çeşit katı malzeme için (seramik, metal, polimer, yarı iletken, biyomalzeme) çeşitli yüzey özelliklerini (sürtünme, yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü, tribolojik özellikler, atomik seviyede yüzey kuvvetleri vb.) ve düşük boyutlu nano yapıların ve nano malzemelerin fizikokimyasal yüzey özelliklerinin elde edilmesinde kullanılır. AKM katı hal fiziği, yarıiletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği ve kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, hücre biyolojisi ve tıp gibi birçok alanda uygulanabilir.

Görüntüleme ve Karakterizasyon biriminde bulunan laboratuvarlar.

Taramalı Elektron Mikroskobu Laboratuvarı (SEM)

Atomik Kuvvet Mikroskobu Laboratuvarı (AFM)