Cihaz: NT-MDT Solver Next Atomik Kuvvet Mikroskobu(AFM)
Her çeşit katı malzeme için (seramik, metal, polimer, yarı iletken, biyomalzeme) çeşitli yüzey özelliklerini (sürtünme, yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü, tribolojik özellikler, atomik seviyede yüzey kuvvetleri vb.) ve düşük boyutlu nano yapıların ve nano malzemelerin fizikokimyasal yüzey özelliklerinin elde edilmesinde kullanılır. AFM katı hal fiziği, yarıiletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği ve kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, hücre biyolojisi ve tıp gibi doğal bilimler gibi birçok alanda uygulanabilir.
Teknik Özellikler
| Ölçme Sistemi | ||
| Ölçüm Başlıkları | AFM ve STM (sabit, otomatik olarak değiştirilebilir); sıvı AFM, and nanosclerometer başlığı (kaldırılabilir, manuel yerleştirme) | |
| Elde edilebilir SPM Modları | Hava ortamında AFM, STM, nanosklerometre, Sıvı ortamda AFM | |
| Tarama Sistemi | ||
| Tarama Türü | Numune üzerinde | |
| Tarama alanı | 100x100x10 µm (feedback sensörleri ile) 3x3x2 µm (yüksek çözünürlük modunda) | |
| Nonlinearity, XY | 0.1 % (feedback sensörleri ile) | |
| Numune yerleştirme sistemi | ||
| Method | otomatik, video ile izlenebilir | |
| Range, XY | 5×5 mm | |
| Min. step | 0.3 µm | |
| Video görüntüleme sistemi | ||
| Çözünürlük | 2 µm | |
Numune Özellikleri
- Numune, sırasıyla en, boy, genişlik için, 3cm x 3cm x 1cm boyutlarından daha küçük ve katı olmalıdır.
- Numune yüzeyindeki yükseltiler (pürüzlülük, derinlik) 5 mikronu geçmemeli,
- Numuneler kuru ve yerleştirme yüzeyine paralel olacak şekilde düz olmalıdır.
- Numuneler toz ve sıvı olmamalıdır (Toz numuneler için bilgi alınız).
- Numunenizin AFM kriterlerine uygun olup olmadığını belirlemek için ilgili personelle iletişime geçiniz.
