OMÜ Kurupelit Kampüsü Karadeniz İleri Teknoloji Araştırma ve Uygulama Merkezi Atakum / Samsun

Toz Kristal Cihazı (XRD)

30.04.2020
Toz Kristal Cihazı (XRD)

 

TEMEL PRENSİPLER

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD) her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.
X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların kristalin malzemelerin ince filmlerin ve polimerlerin kalitatif ve kantitatif incelemeleri yapılabilir. Birçok alanda kullanılan sistem ile reflektivite (yansıma) ve küçük açı X-ışını saçınımı (SAXS) ölçümleri ince film kalınlığı ve yüzeyin pürüzlülüğü tekstür ve stres analizleri yapılabilmektedir.

CİHAZIN ÖZELLİKLERİ

KiTAM Merkez Araştırma Laboratuvarında bulunan Rigaku Smart Lab X-Işını Difraktometresi çok amaçlı bölümleri ile hizmet vermektedir. Cihaz bakır hedefli X-ışını tüpüne ve tüpteki ani sıcaklık değişimlerini kontrol eden su soğutucusuna sahiptir. Cihazda monokromatize X-ışını elde edilmesini sağlayan yüksek çözünürlükte Grafit Monokromatör kullanılmaktadır. SmartLab XRD cihazında bulunan çapraz ışın optik mekanizması (CBO) yeni bir ayar ve düzenleme yapılmaksızın odak ya da paralel ışın geometrisinde çalışabilme imkanı sağlar. Rutin olarak kullanılan “Bragg-Brentano odak ışın geometrisi” yöntemi ile iyi kristallenmiş ve düzgün yüzeyli örneklerden oldukça güçlü kırınım bantları elde edilmesine karşın; yüzeyi pürüzlü zayıf kristallenmiş örneklerin ve özellikle ince filmlerin faz tanımlamalarında “Paralel odak ışın geometrisi” kullanılmaktadır. Ayrıca değişik kalınlıklardaki ince filmlerden standart Θ/2Θ (2Θ=2-90° aralığında) tarama yöntemiyle genellikle zayıf bir sinyal alınmasına karşın 2Θ tarama yöntemi ve sabit bir grazing açısı (GIXD-minimum 0 1°) ile daha güçlü bir sinyal elde edilebilir. Bu teknikle ince film ve polikristalin örneklerde oldukça hassas ölçümler yapılabilmektedir.

KULLANIM ALANLARI
  •  Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında
  • Metal ve alaşım analizlerinde
  • Seramik ve çimento sanayiinde
  • İnce film kompozisyonu tayininde
  • Polimerlerin analizinde
  • İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde
  • Arkeolojide tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde
ÖRNEK ÇALIŞMALAR

 

Bilgi ve proforma talepleriniz için bizi arayabilirsiniz: